Pendulum Instruments · 電磁干擾掃描儀
SCN 系列
近場 EMI 掃描，定位輻射源頭，提升設計品質
SCN 系列是近場 EMI 掃描的通用型選擇：0.1 mm 最小步進，掃描台從 200×100 mm 到 600×400×300 mm 共四種尺寸，可依待測物大小挑選——大機型放得下整台設備而不只是一塊裸板。頻率涵蓋依前置放大器選配為 3、6 或 10 GHz。SCN-522 為 2D 平面掃描；SCN-524、534、564 為 4D，具備 3D 移動加探頭旋轉。選型時最實際的判準是待測物尺寸：掃描台放不下就什麼都測不到，這比解析度更早成為限制。
產品概觀
近場掃描要回答的問題是「輻射從哪裡來」，而能不能回答，先取決於待測物放不放得進去。SCN 系列提供四種掃描台尺寸正是為此：小型機台適合模組與裸板，600×400×300 mm 的大型機台則能容納整機，讓量測對象是產品實際出貨的狀態而不是拆解後的子板——很多耦合問題只有在整機組裝後才會出現。0.1 mm 的最小步進對多數板級定位已足夠；若需要分辨更細的結構，同系列的 HRE 提供 25 μm。掃描模式方面，2D 機型在固定高度上掃平面，4D 機型加入 Z 軸移動與探頭旋轉，可取得高度方向的衰減曲線與極化資訊。頻率上限由前置放大器決定，3、6 或 10 GHz 三種選擇應對應待測物的實際工作頻段與諧波範圍——量測範圍不含諧波時，最需要看的頻段往往正好在外面。
主要規格
| 最小步進量 | 0.1 mm |
|---|---|
| 頻率範圍（標準探頭組） | 最高 3 GHz、6 GHz 或 10 GHz（視選配前置放大器型號） |
| 掃描模式 | 2D（SCN-522）/ 4D — 3D 移動＋探頭旋轉（SCN-524 / 534 / 564） |
| 掃描台尺寸 XY（XYZ） | 200×100 mm｜200×100×100 mm｜300×200×100 mm｜600×400×300 mm |
| 機台外形尺寸 | SCN-522: 450×370×430 mm｜SCN-524: 450×370×630 mm｜SCN-534: 550×470×630 mm｜SCN-564: 850×670×830 mm（寬 × 深 × 高） |
| 淨重 | SCN-522: 約 11 kg｜SCN-524: 約 13 kg｜SCN-534: 約 15 kg｜SCN-564: 約 23 kg |
| 電源輸入 | 100–240 Vac，50 Hz / 60 Hz，45 W |
| 通訊介面 | USB 2.0 |
| 作業系統需求 | Windows 10 或更新版本 |
| 操作溫度 | +10°C 至 +35°C |
| 雷射測距儀（選配 SLDM） | Class 2，1 mW，670 nm 波長 |
| 最大使用海拔 | 2000 m |
產品特點
四種掃描台尺寸
從 200×100 mm 到 600×400×300 mm，整機或裸板都放得下，量測對象可以是實際出貨狀態。
0.1 mm 步進
板級定位的解析度足夠；需要更細時同系列的 HRE 提供 25 μm。
2D 與 4D 可選
4D 機型加上 Z 軸與探頭旋轉，取得高度衰減曲線與極化方向。
頻率上限依探頭組
3、6 或 10 GHz，選擇時要涵蓋工作頻率的諧波而不只是基頻。
整機量測
大型機台容納組裝後的產品，找出只在整機狀態下才出現的耦合問題。
研發與量產都用得上
除了設計階段的 pre-compliance 驗證，也可用於量產來料的 EMI 品質把關，設備不會只在專案期間才有價值。
典型應用場景
研發驗證
電路板設計階段輻射源快速定位
工程師在產品送交正式 EMC 測試實驗室之前，以 SCN 系列對電路板進行高解析度（步進精度 0.1 mm）近場掃描，直接在熱圖上找出高輻射元件或走線段，進而針對性修改佈局或加裝屏蔽，避免後期反覆返工的高額成本。
設計比較
多版本電路方案客觀量測比較
研發團隊將兩種或多種佈局方案依序置於掃描台，利用 SCN 的重複性掃描對各版本在相同頻率點產生的電磁干擾熱圖進行疊加比對，以數據佐證哪一方案的內部 EMI 熱點最少，為設計定案提供客觀依據，取代主觀目視判斷。
量產品管
產線抽驗確保供應商元件一致性
製造商在量產階段對替換供應商的關鍵 IC 或模組進行抽樣掃描，將量測結果與已驗證基準版本的近場輻射分佈圖比對；若新批次元件的輻射特性超出容許範圍，可在出廠前攔截，防止整機 EMC 法規認證因料件變異而失效。
選配與配置
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型號與掃描範圍
硬體選配
軟體選配
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