Pendulum Instruments · 電磁干擾掃描儀
SCN 系列
近場 EMI 掃描，定位輻射源頭，提升設計品質
SCN 系列是 Pendulum Instruments（Detectus）推出的高解析度近場電磁相容性（EMC）掃描系統，提供 2D、3D 及 4D 掃描模式，最小步進量達 0.1 mm，可精確定位電路板上的干擾輻射源。搭配 Detectus Scanning Software（DSS）與多款頻譜分析儀驅動程式，工程師可於產品研發初期或量產品質管制階段快速識別 EMI 問題。四種掃描台尺寸適用於從小型電路板至大型待測物（DUT），滿足不同規模實驗室的需求。
產品概觀
SCN 系列電磁相容性掃描儀是業界近場 EMI 量測的新標準，結合精密 XYZ 三軸移動平台與可旋轉探頭頭座，實現 4D 掃描能力（3D 空間移動加上探頭旋轉）。系統標配近場探頭組（H 場與 E 場）及 30 dB 前置放大器（可選 3 GHz、6 GHz 或配合 S310 升級至 10 GHz），搭配選購的雷射測距儀（SLDM），可自動追蹤 DUT 表面拓撲並維持探頭與元件之間的固定距離。Detectus Scanning Software（DSS）支援數百款頻譜分析儀，提供 2D 與 3D 彩色輻射熱圖、量測差分比對、精確重複掃描等功能，讓工程師得以客觀評估每次重新設計的改善成效。SCN 系列適用於研發初期設計驗證（pre-compliance）及量產製程中的供應商來料抽檢，是電子產品符合 EMC 法規的有力工具。
主要規格
| 最小步進量 | 0.1 mm |
|---|---|
| 頻率範圍（標準探頭組） | 最高 3 GHz、6 GHz 或 10 GHz（視選配前置放大器型號） |
| 掃描模式 | 2D（SCN-522）/ 4D — 3D 移動＋探頭旋轉（SCN-524 / 534 / 564） |
| 掃描台尺寸 XY（XYZ） | 200×100 mm｜200×100×100 mm｜300×200×100 mm｜600×400×300 mm |
| 機台外形尺寸 | SCN-522: 450×370×430 mm｜SCN-524: 450×370×630 mm｜SCN-534: 550×470×630 mm｜SCN-564: 850×670×830 mm |
| 重量 | SCN-522: 11 kg｜SCN-524: 13 kg｜SCN-534: 15 kg｜SCN-564: 23 kg |
| 電源輸入 | 100–240 Vac，50 Hz / 60 Hz，45 W |
| 通訊介面 | USB 2.0 |
| 作業系統需求 | Windows 10 |
| 操作溫度 | +10°C 至 +35°C |
| 雷射測距儀（選配 SLDM） | Class 2，1 mW，670 nm 波長 |
| 最大使用海拔 | 2000 m |
產品特點
0.1 mm 超高解析度掃描
最小步進量僅 0.1 mm，可精確標定電路板上單一元件級別的 EMI 輻射源，大幅縮短問題定位時間。
2D / 4D 彈性掃描模式
SCN-522 提供 2D 平面掃描，SCN-524/534/564 支援 4D 掃描（XYZ 三軸移動＋探頭旋轉），適應不同高度元件密布的 DUT。
Detectus Scanning Software（DSS）
支援數百款頻譜分析儀，提供 2D/3D 彩色輻射熱圖、量測差分比對及精確重複掃描功能，直覺化呈現電磁輻射分佈。
雷射測距儀自動拓撲追蹤（選配）
選配 SLDM 雷射測距儀後，掃描頭可自動跟隨 DUT 表面高低起伏，維持固定探頭距離並自動建立精確 3D 拓撲模型。
四種掃描台尺寸一應俱全
從 200×100 mm 桌上型小台到 600×400×300 mm 大型掃描台，可適配從小型 PCB 到大型機箱等各類 DUT。
R&D 與量產 QC 雙重用途
適用於研發階段的 pre-compliance 設計驗證，也可於量產製程中對供應商來料進行 EMI 品質把關，投資效益高。
典型應用場景
研發驗證
電路板設計階段輻射源快速定位
工程師在產品送交正式 EMC 測試實驗室之前，以 SCN 系列對電路板進行高解析度（步進精度 0.1 mm）近場掃描，直接在熱圖上找出高輻射元件或走線段，進而針對性修改佈局或加裝屏蔽，避免後期反覆返工的高額成本。
設計比較
多版本電路方案客觀量測比較
研發團隊將兩種或多種佈局方案依序置於掃描台，利用 SCN 的重複性掃描對各版本在相同頻率點產生的電磁干擾熱圖進行疊加比對，以數據佐證哪一方案的內部 EMI 熱點最少，為設計定案提供客觀依據，取代主觀目視判斷。
量產品管
產線抽驗確保供應商元件一致性
製造商在量產階段對替換供應商的關鍵 IC 或模組進行抽樣掃描，將量測結果與已驗證基準版本的近場輻射分佈圖比對；若新批次元件的輻射特性超出容許範圍，可在出廠前攔截，防止整機 EMC 法規認證因料件變異而失效。
選配與配置
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型號與掃描範圍
硬體選配
軟體選配
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